原子力顯微鏡各種成像模式的原理.doc
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原子力顯微鏡各種成像模式的原理,頁數(shù)6字數(shù) 4287 摘要原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品...
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原子力顯微鏡各種成像模式的原理
頁數(shù) 6 字數(shù) 4287
摘要
原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學(xué)檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應(yīng)于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。下面，我們以激光檢測原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection, Laser-AFM）——掃描探針顯微鏡家族中最常用的一種為例，來詳細說明其工作原理。
參考文獻：
1、 D Courjon, C Bainier. Near Field Microscopy and Near Field Optics. Rep. Prog. Phys. 57 (1994) 989-1028.
2、張樹霖，《近場光學(xué)顯微鏡及其應(yīng)用》，科學(xué)出版社，2000
3、朱星，“近場光學(xué)與近場光學(xué)顯微鏡”，《北京大學(xué)學(xué)報》（自然科學(xué)版），第33卷，第3期，1997年5月
4、王佳， "近場掃描光學(xué)顯微鏡和光子掃描隧道顯微鏡" 《儀器儀表學(xué)報》Vol.17, No.5, P558-560, 1996
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摘要
原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學(xué)檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應(yīng)于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。下面，我們以激光檢測原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection, Laser-AFM）——掃描探針顯微鏡家族中最常用的一種為例，來詳細說明其工作原理。
參考文獻：
1、 D Courjon, C Bainier. Near Field Microscopy and Near Field Optics. Rep. Prog. Phys. 57 (1994) 989-1028.
2、張樹霖，《近場光學(xué)顯微鏡及其應(yīng)用》，科學(xué)出版社，2000
3、朱星，“近場光學(xué)與近場光學(xué)顯微鏡”，《北京大學(xué)學(xué)報》（自然科學(xué)版），第33卷，第3期，1997年5月
4、王佳， "近場掃描光學(xué)顯微鏡和光子掃描隧道顯微鏡" 《儀器儀表學(xué)報》Vol.17, No.5, P558-560, 1996
