智能電器監(jiān)控單元靜電放電敏感性的實(shí)驗(yàn)研究.doc
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智能電器監(jiān)控單元靜電放電敏感性的實(shí)驗(yàn)研究,本文共7頁(yè)3781字摘要:為研究智能電器監(jiān)控單元的靜電放電敏感性,利用靜電放電發(fā)生器對(duì)設(shè)備機(jī)殼放電進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究。根據(jù)靜電放電干擾的耦合途徑以及智能電器監(jiān)控單元的實(shí)際工作情況,選取電源模塊直流側(cè)電壓作為研究智能電器監(jiān)控單元的靜電放電敏感性的對(duì)象,通過(guò)頻譜分析得出直流側(cè)對(duì)地電壓和靜...
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智能電器監(jiān)控單元靜電放電敏感性的實(shí)驗(yàn)研究
本文共7頁(yè) 3781字
摘要:為研究智能電器監(jiān)控單元的靜電放電敏感性,利用靜電放電發(fā)生器對(duì)設(shè)備機(jī)殼放電進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究。根據(jù)靜電放電干擾的耦合途徑以及智能電器監(jiān)控單元的實(shí)際工作情況,選取電源模塊直流側(cè)電壓作為研究智能電器監(jiān)控單元的靜電放電敏感性的對(duì)象,通過(guò)頻譜分析得出直流側(cè)對(duì)地電壓和靜電放電電壓間的關(guān)系。裝置采取屏蔽、接地和濾波等抗干擾措施時(shí)其靜電放電敏感性降低,分析直流側(cè)電壓發(fā)生的相應(yīng)變化得出結(jié)論:靜電放電時(shí),智能電器監(jiān)控單元直流側(cè)對(duì)地電壓與裝置的靜電放電敏感性有一定的相關(guān)性。
關(guān)鍵詞:智能電器監(jiān)控單元,靜電放電,敏感性,實(shí)驗(yàn)研究,電源模塊直流側(cè)電壓,頻譜分析
參 考 文 獻(xiàn)
[1]Wilson Perry F,Ma M T.Fields radiated by electronic discharges[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,1991,33(1):10-18.
[2]Caeeavo G,Cerri G.ESD field penetration into a populated metallic enclosure[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2002,44(1):243—249.
[3]Graziano Cerri.Theoretical and experimental characterization of transient electromagnetic fields radiated by electrostatic discharge(ESD)currents[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2002,44(1):139-146.
[4]Gr~iano Cerri.Modeling of electromagnetic interference induced by electrostatic discharge (ESD) inside resonant structures[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2002,44(1):19Z—ZO1.
[5]Wang K,Pommerenke D,Jian Min Zhang,et a1.The PCB level ESD immunity study by using 3 dimension ESD scan system
本文共7頁(yè) 3781字
摘要:為研究智能電器監(jiān)控單元的靜電放電敏感性,利用靜電放電發(fā)生器對(duì)設(shè)備機(jī)殼放電進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究。根據(jù)靜電放電干擾的耦合途徑以及智能電器監(jiān)控單元的實(shí)際工作情況,選取電源模塊直流側(cè)電壓作為研究智能電器監(jiān)控單元的靜電放電敏感性的對(duì)象,通過(guò)頻譜分析得出直流側(cè)對(duì)地電壓和靜電放電電壓間的關(guān)系。裝置采取屏蔽、接地和濾波等抗干擾措施時(shí)其靜電放電敏感性降低,分析直流側(cè)電壓發(fā)生的相應(yīng)變化得出結(jié)論:靜電放電時(shí),智能電器監(jiān)控單元直流側(cè)對(duì)地電壓與裝置的靜電放電敏感性有一定的相關(guān)性。
關(guān)鍵詞:智能電器監(jiān)控單元,靜電放電,敏感性,實(shí)驗(yàn)研究,電源模塊直流側(cè)電壓,頻譜分析
參 考 文 獻(xiàn)
[1]Wilson Perry F,Ma M T.Fields radiated by electronic discharges[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,1991,33(1):10-18.
[2]Caeeavo G,Cerri G.ESD field penetration into a populated metallic enclosure[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2002,44(1):243—249.
[3]Graziano Cerri.Theoretical and experimental characterization of transient electromagnetic fields radiated by electrostatic discharge(ESD)currents[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2002,44(1):139-146.
[4]Gr~iano Cerri.Modeling of electromagnetic interference induced by electrostatic discharge (ESD) inside resonant structures[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2002,44(1):19Z—ZO1.
[5]Wang K,Pommerenke D,Jian Min Zhang,et a1.The PCB level ESD immunity study by using 3 dimension ESD scan system
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